Testovací patice DS1043-480G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-400G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-280G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-240G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1043-320G s roztečí mezi řadami 7,62÷15,24mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-240G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-160G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-200G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Testovací patice DS1044-280G s roztečí mezi řadami 7,62mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP20 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP16 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP24 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP14 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP08 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP06 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody
Patice DIP18 s roztečí mezi řadami 7,62 mm vhodná pro integrované obvody